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奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀

簡要描述：

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產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2025-06-08
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超聲波測厚儀

奧林巴斯測厚儀美國泛美38dl

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奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀

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產(chǎn)品簡介：45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。

45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。

標準功能

45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過zui基本的培訓，就可完成zui常用的測厚應(yīng)用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。

與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量
zui小值/zui大值模式
兩個報警模式
差值模式
時基B掃描
縮減率
增益調(diào)整（標準、高、低）
密碼式儀器鎖定

帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途zui廣泛的測厚儀行列。

回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量?？膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。

抵御惡劣環(huán)境的能力

堅固耐用，設(shè)計符合IP67標準。
爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
寬泛的操作溫度范圍
可選的帶有支架的橡膠保護套

室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式

簡便操作的設(shè)計理念

可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
USB通訊端口
可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
默認或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
密碼保護方式的儀器鎖定
彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有的清晰度

室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式

45MG的技術(shù)規(guī)格

測量
雙晶探頭測量模式	從激勵脈沖后的精確延遲到*個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波（可選）	在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量（可選）	利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測量模式（可選）	模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。模式2：延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍	0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍	0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）	低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸）單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍	標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般規(guī)格
操作溫度范圍	-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
鍵盤	密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼	防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標準。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）	總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量	430.9克
電源	3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)
電池工作時間	3節(jié)AA堿性電池：20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時
標準	設(shè)計符合EN15317標準

顯示
彩色透反QVGA顯示	液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波	全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）

輸入/輸出
USB	2.0從接口
存儲卡	zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器	45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量	475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼	32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu)	6個標準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)
報告	機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和zui小值/zui大值

標準配置

45MG數(shù)字式超聲測厚儀
AA堿性電池
2階試塊和耦合劑
USB線纜
用戶手冊，存于CD盤上
測量功能：zui小值/zui大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項

45MG-SE （U8147022）：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-HP （U8147023）：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-EETC （U8147021）：回波到回波和穿透涂層
45MG-WF （U8147019）：波形選項
45MG-DL （U8147020）：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序

選購附件

MICROSSD-ADP-2GB （U8779307）： 2 GB外置MicroSD存儲卡
45MG-RPC （U8779676）： 帶支架的橡膠保護套

45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途zui廣泛的測厚儀行列。

回波到回波/穿透涂層
單晶
單晶高穿透
數(shù)據(jù)記錄器
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描

回波到回波/穿透涂層選項

回波到回波

測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：

自動回波到回波
手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：
- 增益調(diào)整
- 擴展空白
- 回波空白

穿透涂層技術(shù)

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

顯示A掃描的自動回波到回波模式	顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）
調(diào)整*個回波空白的手動回波到回波模式	顯示可選波形的穿透涂層模式

用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測量?？膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

大多數(shù)薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。

大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
厚鑄造金屬部件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲存罐
復合材料板
對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。

數(shù)據(jù)記錄器選項

內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)，或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
32位字符的文件名稱
20位字符的ID#（TML#）編碼
6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機上手動創(chuàng)建的文件格式
內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡
可以在內(nèi)置和可插拔MicroSD存儲卡之間拷貝文件
標準型USB通訊
單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸
機載統(tǒng)計報告
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
- 通過USB端口
- 讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，或在存儲卡上寫入信息
可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導出到MicroSD存儲卡

在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。

機載數(shù)據(jù)庫柵格視圖
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

GageView 接口程序

包含在數(shù)據(jù)記錄器選項中
基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測厚儀的數(shù)據(jù)
創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)
編輯所存數(shù)據(jù)
顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值
從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀
將測量總結(jié)導出到電子表格及其它程序
收集捕獲的屏幕
打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告
升級45MG軟件
下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件

B掃描屏幕
在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。

雙晶探頭，用于腐蝕測厚操作
單晶探頭，用于精確厚度測量

所有標準雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每個特定探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。

探頭	工件編號	頻率（MHz）	連接器	端部直徑mm（in.）	*范圍（鋼）mm（in.）**	溫度范圍 °C （°F）**	線纜	工件編號
D790	U8450002	5.0	平直	11.00 （0.434）	1.00 to 500.00 （0.040 to 20.000）	-20 to 500 （-5 to 932）	密封	¯
D790-SM	U8450009		平直				LCMD-316-5B†	U8800353
D790-RL	U8450007		90°				LCLD-316-5G†	U8800330
D790-SL	U8450008		平直				LCLD-316-5H	U8800331
D791	U8450010	5.0	90°	11.00 （0.434）	1.00～500.00 （0.040～20.000）	-20～500 （-5～932）	密封	¯
D791-RM	U8450011	5.0	90°	11.00 （0.434）	1.00～500.00 （0.040～20.000）	-20～400 （-5～752）	LCMD-316-5C	U8800345
D792	U8450012	10	平直	7.20 （0.283）	0.50～25.00 （0.020 to 1.000）	0～50 （32～122）	密封	¯
D793	U8450013	10	90°	7.20 （0.283）	0.50～25.00 （0.020 to 1.000）	0～50 （32～122）	密封	¯
D794	U8450014	5.0	平直	7.20 （0.283）	0.75～50.00 （0.030～2.000）	0～50 （32～122）	密封	¯
D797	U8450016	2.0	90°	22.90 （0.900）	3.80～635.00 （0.150～25.000）	-20～400 （-5～752）	密封	¯
D797-SM	U8450017	2.0	平直	22.90 （0.900）	3.80～635.00 （0.150～25.000）	-20～400 （-5～752）	LCMD-316-5D	U8800355
D7226	U8454013	7.5	90°	8.90 （0.350）	0.71～100.00 （0.028～4.000）	-20～150 （-5～300）	密封	¯
D798-LF	U8450019	7.5	90°	8.90 （0.350）	0.71～100.00 （0.028～4.000）	-20～150 （-5～300）	密封	¯
D798	U8450018	7.5	90°	7.20 （0.283）	0.71～100.00 （0.028～4.000）	-20～150 （-5～300）	密封	¯
D798-SM	U8450020	7.5	平直	7.20 （0.283）	0.71～100.00 （0.028～4.000）	-20～150 （-5～300）	LCMD-316-5J	U8800357
D799	U8450021	5.0	90°	11.00 （0.434）	1.00～500.00 （0.040～20.000）	-20～150 （-5～300）	密封	¯
MTD705	U8620225	5.0	90°	5.10 （0.200）	1.00～19.00 （0.040～0.750）	0～50 （32～122）	LCPD-78-5	U8800332
D7906-SM††	U8450005	5.0	平直	11.00 （0.434）	1.00～50.00 （0.040～2.000）	0～50 （32～122）	LCMD-316-5L	U8800358
D7906-RM††	U8450025	5.0	90°	11.00 （0.434）	1.00～50.00 （0.040～2.000）	0～50 （32～122）	LCMD-316-5N	U8800647
D7908	U8450006	7.5	90°	7.20 （0.283）	1.00～37.00 （0.040～1.500）	0～50 （32～122）	密封	¯

*厚度范圍取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。	†可提供不銹鋼線纜；欲查詢詳情，請與Olympus NDT。
**zui高溫度下，僅使用間歇接觸。	††使用穿透涂層技術(shù)的探頭。

單晶探頭，用于精確厚度測量

接觸式探頭

頻率	晶片直徑		探頭	工件編號
頻率	mm	in.	探頭	工件編號
0.5	25	1.00	M101-SB*	U8400017
1.0	25	1.00	M102-SB*	U8400018
1.0	13	0.5	M103-SB*	U8400020
2.25	13	0.5	M106-RM	U8400023
2.25	13	0.5	M106-SM	U8400025
2.25	13	0.5	M1036	U8400020
5.0	13	0.5	M109-RM	U8400027
5.0	13	0.5	M109-SM	U8400028
5.0	6	0.25	M110-RM	U8400030
5.0	6	0.25	M110-SM M110H-RM**	U8400031 U8400029
10	6	0.25	M112-RM M112-SM	U8400034 U8400035 U8400033
10	6	0.25	M112H-RM**	U8400033
10	3	0.125	M1016	U8400015
20	3	0.125	M116-RM	U8400038
20	3	0.125	M116-SM	U8400039
20	3	0.125	M116H-RM**	U8400037

*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**需使用彈簧加載支架。

Sonopen 探頭

Sonopen探頭的延遲塊可以更換，其端部為錐形，可接觸到極其狹窄的區(qū)域。這種探頭可以在測量渦輪葉片厚度及塑料容器的內(nèi)圓角的厚度等應(yīng)用中提供可靠的厚度讀數(shù)。

Sonopen - 15 MHz，3 mm（0.125 in.）探頭

平直手柄		直角手柄		45°手柄
工件	工件編號	工件	工件編號	工件	工件編號
V260-SM	U8411019	V260-RM	U8411018	V260-45	U8411017

Sonopen - 可替換的延遲塊

*直徑		工件	工件編號
mm	in.	工件	工件編號
2.0	0.080	DLP-3	U8770086
1.5	0.060	DLP-302	U8770088
2.0	0.080	DLP-301†	U8770087

†高溫延遲，可用于高達175°C的溫度。

水浸探頭

Panametrics Microscan水浸探頭的設(shè)計目的是在水中傳播并接收超聲波。當被測樣件的幾何形狀較為復雜或進行在線檢測時，通過水浸技術(shù)獲得的厚度讀數(shù)通常更為可靠。典型的離線應(yīng)用包含對小直徑塑料或金屬管件的壁厚測量，掃查或旋轉(zhuǎn)測量，以及對大幅彎曲的樣件進行的厚度測量。在某些應(yīng)用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區(qū)域。

頻率（MHz）	晶片直徑		探頭	工件編號
頻率（MHz）	mm	in.	探頭	工件編號
2.25	13	0.50	M306-SU	U8410027
5.0	13	0.50	M309-SU	U8420001
5.0	6	0.25	M310-SU	U8420004
10	6	0.25	M312-SU	U8420008
15	6	0.25	M313-SU	U8420009
20	3	0.125	M316-SU	U8420011

RBS-1水浸箱

RBS-1水浸箱的設(shè)計目的是簡化利用水浸技術(shù)的超聲測厚操作。

延遲塊探頭

Microscan延遲塊探頭可在測量極薄材料，溫度*，或要求*厚度分辨率的應(yīng)用中，發(fā)揮的測量性能。

頻率（MHz）	晶片直徑		探頭	工件編號	支架	工件編號
頻率（MHz）	mm	in.	探頭	工件編號	支架	工件編號
0.5	25	1.00	M2008*	U8415001	-	-
2.25	13	0.50	M207-RB	U8410017	-	-
5.0	13	0.50	M206-RB	U8410016	-	-
5.0	6	0.25	M201-RM	U8410001	-	-
5.0	6	0.25	M201H-RM	U8411030	2127	U8770408
10	6	0.25	M202-RM	U8410003	-	-
10	6	0.25	M202-SM	U8410004	-	-
10	6	0.25	M202H-RM	U8507023	2127	U8770408
10	3	0.125	M203-RM	U8410006	-	-
10	3	0.125	M203-SM	U8410007	-	-
20	3	0.125	M208-RM	U8410019

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奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀

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單晶探頭，用于精確厚度測量

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